Dispositif de test de réseau de précision

Montage de test de réseau de précision Syris

Fabriqué par Syris, ce montage au format réseau de précision combine de l'acier inoxydable poli et nickelé avec un matériau composite FR4, conçu pour les applications de test et de manipulation de semi-conducteurs ou de composants à haut volume.

Caractéristiques principales :

• Matériau : Cadre en acier inoxydable poli et nickelé pour une excellente résistance à la corrosion, une résistance mécanique et une longue durée de vie sous des cycles répétés ; panneau d'insertion en FR4 (laminé verre-époxy) offrant une isolation électrique, une stabilité dimensionnelle et un poids léger
• Traitement de surface : Les surfaces en acier inoxydable poli miroir et nickelé réduisent la friction et la génération de particules tout en résistant à l'oxydation et à l'usure
• Conception : Disposition uniforme de réseau multi-cavités (matrice 13 x 8) avec des poches carrées usinées avec précision pour un positionnement cohérent et répétable des composants sur l'ensemble du panneau
• Alignement de précision : Plusieurs trous de goupille de centrage le long du périmètre assurent un enregistrement précis et un positionnement répétable lors des processus d'assemblage, de test ou de manipulation
• Construction : Assemblage laminé en deux pièces — cadre supérieur/inférieur en acier inoxydable collé ou fixé au noyau en FR4 — combinant rigidité structurelle et isolation électrique
• Application : Convient comme support, réseau de douilles de test ou montage de manipulation pour les boîtiers de semi-conducteurs, les connecteurs ou les composants électroniques nécessitant un positionnement répétable à haute densité

Capacités de fabrication :
Syris est spécialisé dans la fabrication de métaux de précision, la finition de surface (polissage et placage au nickel) et l'assemblage de matériaux mixtes avec des composites FR4, fournissant des montages réseau à haute densité avec des tolérances serrées entre les cavités pour les applications de test et de manipulation de semi-conducteurs.